【画像】IoT機器向けに、TLSでの認証時間を1/5にする技術を産学で開発(富士通研究所) (2/2)| ScanNetSecurity[国内最大級のサイバーセキュリティ専門ポータルサイト]
2018.06.22(金)

IoT機器向けに、TLSでの認証時間を1/5にする技術を産学で開発(富士通研究所) 2枚目の写真・画像

製品・サービス・業界動向

TLS認証時の従来方式との性能比較
TLS認証時の従来方式との性能比較

カテゴリ別新着記事

★★Scan PREMIUM 会員限定コンテンツにフルアクセスが可能となります★★
<b>★★Scan PREMIUM 会員限定コンテンツにフルアクセスが可能となります★★</b>

経営課題としてサイバーセキュリティに取り組む情報システム部門や、研究・開発・経営企画に携わる方へ向けた、創刊19年のセキュリティ情報サービス Scan PREMIUM を、貴社の事業リスク低減のためにご活用ください。

×