Zero Day Initiative、IoT 製品の脆弱性リスクを開発段階で評価できるプログラム開始(トレンドマイクロ) | ScanNetSecurity[国内最大級のサイバーセキュリティ専門ポータルサイト]
2018.12.19(水)

Zero Day Initiative、IoT 製品の脆弱性リスクを開発段階で評価できるプログラム開始(トレンドマイクロ)

トレンドマイクロは、脆弱性発見コミュニティ「Zero Day Initiative(ZDI)」が、IoT製品に関する脆弱性のリスクを開発段階で最小限に抑えることを可能にする新たなプログラムを提供すると発表した。

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トレンドマイクロ株式会社は9月27日、同社が運営する脆弱性発見コミュニティ「Zero Day Initiative(ZDI)」が、IoT製品に関する脆弱性のリスクを開発段階で最小限に抑えることを可能にする新たなプログラムを提供すると発表した。同プログラムを活用することで、デバイスメーカは市場投入前にIoTデバイスの脆弱性リスク評価が可能になる。

ZDIは2018年上半期だけで600件の脆弱性情報を発表している。これは前年同期比で33%の増加となっている。SCADAと産業用IoTの脆弱性は今年全体の約30%を占めており、ICS-CERTがSCADA/ICS関連の欠陥に関する最大の情報源となっている。トレンドマイクロのCEOであるエバ・チェン氏は、「ZDIの新しいプログラムによって、デバイスメーカはIoTに関する広範かつ有益な調査に即座にアクセスでき、市場投入前にデバイスの脆弱性を評価し、脆弱性対応プロセスを開発する上での支援を得ることができる」としている。
《吉澤 亨史( Kouji Yoshizawa )》

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