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2017.12.12(火)

「UEFI EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性(JVN)

脆弱性と脅威 セキュリティホール・脆弱性

独立行政法人 情報処理推進機構(IPA)および一般社団法人 JPCERT コーディネーションセンター(JPCERT/CC)は1月6日、UEFI(Unified Extensible Firmware Interface)のリファレンス実装である「EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性(CVE-2014-8271)が存在すると「Japan Vulnerability Notes(JVN)」で発表した。CVSSによるBase Scoreは6.2。

EDK1の「Edk1/source/Sample/Universal/Variable/RuntimeDxe/FS/FSVariable.c」のソースコードを取り込んでいるUEFI実装には、POST メソッドの処理に起因するバッファオーバーフローの脆弱性が存在する。JVNでは、開発者が提供する情報や「CERT/CC Vulnerability Note VU#533140」のVendor Informationに掲載されている情報を参考に、対策方法を検討するよう呼びかけている。
《吉澤 亨史》

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