「UEFI EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性(JVN) | ScanNetSecurity[国内最大級のサイバーセキュリティ専門ポータルサイト]
2018.12.13(木)

「UEFI EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性(JVN)

IPAおよびJPCERT/CCは、UEFIのリファレンス実装である「EDK1」にバッファローの脆弱性が存在すると「JVN」で発表した。

脆弱性と脅威 セキュリティホール・脆弱性
独立行政法人 情報処理推進機構(IPA)および一般社団法人 JPCERT コーディネーションセンター(JPCERT/CC)は1月6日、UEFI(Unified Extensible Firmware Interface)のリファレンス実装である「EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性(CVE-2014-8271)が存在すると「Japan Vulnerability Notes(JVN)」で発表した。CVSSによるBase Scoreは6.2。

EDK1の「Edk1/source/Sample/Universal/Variable/RuntimeDxe/FS/FSVariable.c」のソースコードを取り込んでいるUEFI実装には、POST メソッドの処理に起因するバッファオーバーフローの脆弱性が存在する。JVNでは、開発者が提供する情報や「CERT/CC Vulnerability Note VU#533140」のVendor Informationに掲載されている情報を参考に、対策方法を検討するよう呼びかけている。
《吉澤 亨史》

関連記事

Scan PREMIUM 会員限定記事

もっと見る

Scan PREMIUM 会員限定記事特集をもっと見る

カテゴリ別新着記事

★★Scan PREMIUM 会員限定コンテンツにフルアクセスが可能となります★★
<b>★★Scan PREMIUM 会員限定コンテンツにフルアクセスが可能となります★★</b>

経営課題としてサイバーセキュリティに取り組む情報システム部門や、研究・開発・経営企画に携わる方へ向けた、創刊20年のセキュリティ情報サービス Scan PREMIUM を、貴社の事業リスク低減のためにご活用ください。

×