ソフトウェア設計工程における脆弱性低減対策を発表(JPCERT/CC) | ScanNetSecurity
2021.05.15(土)

ソフトウェア設計工程における脆弱性低減対策を発表(JPCERT/CC)

 一般社団法人JPCERTコーディネーションセンターは6月30日、CERT/CCと共同で、設計工程における脆弱性低減策「セキュアデザインパターン」を定義し、技術報告書を発表した。セキュアデザインパターンとは、ソフトウェア設計工程において、脆弱性に繋がる要因の数と脆弱

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 一般社団法人JPCERTコーディネーションセンターは6月30日、CERT/CCと共同で、設計工程における脆弱性低減策「セキュアデザインパターン」を定義し、技術報告書を発表した。セキュアデザインパターンとは、ソフトウェア設計工程において、脆弱性に繋がる要因の数と脆弱性の被害を最小限にするために準備されたひな形のこと。

 機能に依存しないため、開発される製品の種類(アプリケーションドメイン)を選ばない他、開発言語への依存性も低いので、脆弱性対応関連コスト削減とリストの低減などに期待できるという。なお、今回発表した報告書は、ソフトウェア製品の開発者が、設計工程において、より安全なソフトウェア製品を提供するための対策を検討される場合の参考としてもらうことを期待して公開するものとなる。

https://www.jpcert.or.jp/research/index.html#SecureDesignPatterns
《ScanNetSecurity》

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